Влияние оптической обработки на структуру поверхности монокристаллов парателлурита
С.В. Молчанов, С.А. Третьяков, А.М. Иванов, И.А. Каплунов
ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
DOI: 10.26456/pcascnn/2023.15.777
Оригинальная статья
Аннотация: Исследовалось влияние оптической обработки поверхностей монокристалла парателлурита, соответствующих кристаллографическим плоскостям (100), (110) и (001). С помощью оптического профилометра NanoMap WLI1000 контролировался рельефный слой поверхности образцов. Для исследования влияния способа полирования процесс проводили с использованием трех методик – нейтральная полировка, кислотная, полировка и щелочная полировка. Определены характеристики поверхностей парателлурита после шлифования и полирования. Сделаны выводы о преимущественном использовании полирования с применением химических реактивов. Показана анизотропия отличающихся кристаллографическими направлениями поверхностей на скорость шлифования и полирования и на характеристики поверхностей. Исследования структуры шлифованных и полированных поверхностей, соответствующих кристаллографическим плоскостям, показали, что максимальная высота шероховатости наблюдается для плоскости (001). Максимально гладкая поверхность достигается для поверхностей, совпадающих с кристаллографической плоскостью (110).
Ключевые слова: монокристаллы парателлурита, оптическая поверхность, шлифование, полирование, шероховатость
- Молчанов Сергей Вячеславович – младший научный сотрудник Управления научных исследований, ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
- Третьяков Сергей Андреевич – к.ф.-м.н., доцент кафедры прикладной физики, ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
- Иванов Алексей Михайлович – ведущий программист кафедры прикладной физики, ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
- Каплунов Иван Александрович – д.т.н., профессор, заведующий кафедрой прикладной физики , ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
Ссылка на статью:
Молчанов, С.В. Влияние оптической обработки на структуру поверхности монокристаллов парателлурита / С.В. Молчанов, С.А. Третьяков, А.М. Иванов, И.А. Каплунов // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. — 2023. — Вып. 15. — С. 777-786. DOI: 10.26456/pcascnn/2023.15.777.
Полный текст: загрузить PDF файл
Библиографический список:
1. Окатов, М.А. Справочник технолога-оптика / М.А. Окатов. – С-Пб.: Политехника, 2004. – 679 c.
2. Детали оптические. Классы чистоты поверхностей. Методы контроля: ГОСТ Р 11141-84; введ. 01.01.1985. – М.: Издательство стандартов, 1984. – 23 с.
3. Фокин, С.В. Исследование процессов глубокой шлифовки и полировки стеклообразных и кристаллических материалов / С.В. Фокин // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. – 2002. – Т. 2. – № 1. – С. 153-154.
4. Караванов, В.Б. Влияние качества полировки поверхности монокристаллов Ge на их оптические константы / В.Б. Караванов, Н.Ю. Сахновский // Журнал прикладной спектроскопии. – 1986. – Т. 14. – № 4. – С. 623-627.
5. Каплунов, И.А. Рассеяние света монокристаллами германия и парателлурита / И.А. Каплунов, А.И. Колесников, С.Л. Шайович, И.В. Талызин // Оптический журнал. – 2005. – Т. 72. – № 3. – С. 51-56.
6. Колесников, А.И. Влияние рельефа поверхности на отражение и пропускание электромагнитного излучения / А.И. Колесников, И.А. Каплунов, К.А. Морозова, С.А. Третьяков // Вестник воздушнокосмической обороны. – 2018. – № 1(17). – С. 5-11.
7. Молчанов, В.Я. Теория и практика современной акустооптики / В.Я. Молчанов, Ю.И. Китаев, А.И. Колесников и др. – М.: Издательский Дом НИТУ «МИСИС». 2015. – 459 с.
8. Блистанов, А.А. Акустические кристаллы / А.А. Блистанов, В.С. Бондаренко, Н.В. Переломова и др. – М.: Наука, 1982. – 633 с.
9. Каплунов, И.А. Связь между механическими напряжениями и оптическими аномалиями в германии и парателлурита / И.А. Каплунов, А.И. Колесников, К.П. Скоков и др. // Оптический журнал. – 2005. – Т. 72. – № 7. – С. 85-89.
10. SPIP User's Guide. – Режим доступа: www.url: http://www.imagemet.com/WebHelp6/Default.htm. – 22.08.2023.
11. Gwyddion – Free SPM (AFM, SNOM/NSOM, STM, MFM, …) data analysis software. – Режим доступа: www.url: http://gwyddion.net. – 22.08.2023.