Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов
Основан в 2009 году


Некоторые статистические распределения, характеризующие нанотопографию технических поверхностей

В.В. Измайлов, М.В. Новоселова

ФГБОУ ВО «Тверской государственный технический университет»

DOI: 10.26456/pcascnn/2020.12.609

Аннотация: Исследована нанотопография технических поверхностей деталей из высоколегированной термообработанной стали и электротехнического серебра после финишной механической обработки. Экспериментально определены функции плотности вероятности параметров нанотопографии – высот выступов и радиусов кривизны их вершин, которые необходимы для теоретического описания процессов контактного взаимодействия технических поверхностей (на примере поверхностей серебра и стали). Установлено, что распределение указанных параметров наношероховатости сильно асимметрично и далеко от нормального. Доказано, что для исследованных поверхностей плотность вероятности указанных параметров наношероховатости адекватно описывается бета-распределением. Достоверность данного заключения подтверждается с помощью критериев согласия Пирсона χ2 и Романовского.

Ключевые слова: поверхность, нанотопография, параметры, плотность вероятности, бета-распределение, критерии согласия.

Библиографическая ссылка:

Измайлов, В.В. Некоторые статистические распределения, характеризующие нанотопографию технических поверхностей / В.В. Измайлов, М.В. Новоселова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. — 2020. — Вып. 12. — С. 609-616. DOI: 10.26456/pcascnn/2020.12.609.

Полный текст: загрузить PDF файл

Комментарии отключены.