Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов
Основан в 2009 году


Некоторые статистические распределения, характеризующие нанотопографию технических поверхностей

В.В. Измайлов, М.В. Новоселова

ФГБОУ ВО «Тверской государственный технический университет»

DOI: 10.26456/pcascnn/2020.12.609

Оригинальная статья

Аннотация: Исследована нанотопография технических поверхностей деталей из высоколегированной термообработанной стали и электротехнического серебра после финишной механической обработки. Экспериментально определены функции плотности вероятности параметров нанотопографии – высот выступов и радиусов кривизны их вершин, которые необходимы для теоретического описания процессов контактного взаимодействия технических поверхностей (на примере поверхностей серебра и стали). Установлено, что распределение указанных параметров наношероховатости сильно асимметрично и далеко от нормального. Доказано, что для исследованных поверхностей плотность вероятности указанных параметров наношероховатости адекватно описывается бета-распределением. Достоверность данного заключения подтверждается с помощью критериев согласия Пирсона χ2 и Романовского.

Ключевые слова: поверхность, нанотопография, параметры, плотность вероятности, бета-распределение, критерии согласия

  • Измайлов Владимир Васильевич – д.т.н., профессор кафедры прикладной физики ФГБОУ ВО «Тверской государственный технический университет»
  • Новоселова Марина Вячеславовна – к.т.н., доцент кафедры прикладной физики ФГБОУ ВО «Тверской государственный технический университет»

Ссылка на статью:

Измайлов, В.В. Некоторые статистические распределения, характеризующие нанотопографию технических поверхностей / В.В. Измайлов, М.В. Новоселова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. — Тверь: Твер. гос. ун-т, 2020. — Вып. 12. — С. 609-616. DOI: 10.26456/pcascnn/2020.12.609.

Полный текст: download PDF file

Библиографический список:

1. Уайтхауз, Д. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы / Д. Уайтхауз. – Долгопрудный: Издательский Дом «Интеллект», 2009. – 472 с.
2. Лич, Р. Инженерные основы измерений нанометровой точности / Р. Лич. – Долгопрудный: Издательский Дом «Интеллект», 2012. – 400 с.
3. Григорьев, А.Я. Физика и микрогеометрия технических поверхностей / А.Я. Григорьев. – Минск: Беларуская навука, 2016. – 247 с.
4. Cуслов, А.Г. Инженерия поверхности деталей / А.Г. Суслов, В.Ф. Безъязычный, Ю.В. Панфилов и др. ; под. ред. А.Г. Суслова. – М.: Машиностроение, 2008. – 320 с.
5. Измайлов, В.В. О параметрах нанотопографии технической поверхности и ее профиля / В.В. Измайлов, М.В. Новоселова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. – 2018. – Вып. 10. − С. 313-321. DOI: 10.26456/pcascnn/2018.10.313.
6. Thomas, T.R. Rough surfaces / T.R. Thomas. – London: Imperial College Press, 1999. – 278 p.
7. Попов, В.Л. Механика контактного взаимодействия и физика трения. От нанотрибологии до динамики землетрясений / В.Л. Попов. – М.: ФИЗМАТЛИТ, 2013. – 352 с.
8. Хан, Г. Статистические модели в инженерных задачах / Г. Хан, С. Шапиро. – М.: Изд-во Мир, 1969. –396 с.
9. Кобзарь, А.И. Прикладная математическая статистика. Для инженеров и научных работников / А.И. Кобзарь. – М.: ФИЗМАТЛИТ, 2006. – 816 с.