Некоторые статистические распределения, характеризующие нанотопографию технических поверхностей
В.В. Измайлов, М.В. Новоселова
ФГБОУ ВО «Тверской государственный технический университет»
DOI: 10.26456/pcascnn/2020.12.609
Аннотация: Исследована нанотопография технических поверхностей деталей из высоколегированной термообработанной стали и электротехнического серебра после финишной механической обработки. Экспериментально определены функции плотности вероятности параметров нанотопографии – высот выступов и радиусов кривизны их вершин, которые необходимы для теоретического описания процессов контактного взаимодействия технических поверхностей (на примере поверхностей серебра и стали). Установлено, что распределение указанных параметров наношероховатости сильно асимметрично и далеко от нормального. Доказано, что для исследованных поверхностей плотность вероятности указанных параметров наношероховатости адекватно описывается бета-распределением. Достоверность данного заключения подтверждается с помощью критериев согласия Пирсона χ2 и Романовского.
Ключевые слова: поверхность, нанотопография, параметры, плотность вероятности, бета-распределение, критерии согласия.
Библиографическая ссылка:
Измайлов, В.В. Некоторые статистические распределения, характеризующие нанотопографию технических поверхностей / В.В. Измайлов, М.В. Новоселова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. — 2020. — Вып. 12. — С. 609-616. DOI: 10.26456/pcascnn/2020.12.609.
Полный текст: загрузить PDF файл
Комментарии отключены.