Диагностика сотовой структуры на электронном изображении микроканальных пластин на наноуровне, прошедших фотоэлектронную тренировку

В.И. Савенко, Д.Г. Самканашвили
ООО Владикавказский технологический центр «Баспик»
ФГБОУ ВО «Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова»

DOI: 10.26456/pcascnn/2018.10.550

Аннотация: В данной публикации приведены результаты исследования экспериментальных образцов микроканальных пластин после проведения фотоэлектронной тренировки. При фотоэлектронной тренировке основное влияние на параметры микроканальных пластин оказывает электронная обработка. Влияние ультрафиолетового излучения на параметры микроканальных пластин без подачи напряжения на пластину незначительно. Под действием входного потока счищаются наноразмерные загрязнения, которые в небольших количествах имеют место по отдельным границам спекания.
Ключевые слова: микроканальная пластина, фотоэлектронная тренировка, ультрафиолетовое излучение.

Библиографическая ссылка:
Савенко, В.И. Диагностика сотовой структуры на электронном изображении микроканальных пластин на наноуровне, прошедших фотоэлектронную тренировку / В.И. Савенко, Д.Г. Самканашвили // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов: межвуз. сб. науч. тр. / под общей редакцией В.М. Самсонова, Н.Ю. Сдобнякова. — Тверь: Твер. гос. ун-т, 2018. — Вып. 10. — С. 550-556.

Полный текст: загрузить PDF файл