О параметрах нанотопографии технической поверхности и её профиля

В.В. Измайлов, М.В. Новоселова
ФГБОУ ВО «Тверской государственный технический университет»

DOI: 10.26456/pcascnn/2018.10.313

Аннотация: Рассмотрены высотные и шаговые параметры нанотопографии технических поверхностей и некоторые их корреляционные связи в сравнении с аналогичными параметрами и связями для микромасштабного уровня (микрошероховатость). Показано, что на наномасштабном уровне хорошо выполняются как теоретические, так и эмпирические зависимости, характеризующие топографию поверхностей на микромасштабном уровне.
Ключевые слова: поверхность, топография, наношероховатость, микрошероховатость, высотные параметры, шаговые параметры, корреляционные связи.

Библиографическая ссылка:
Измайлов, В.В. О параметрах нанотопографии технической поверхности и её профиля / В.В. Измайлов, М.В. Новоселова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов: межвуз. сб. науч. тр. / под общей редакцией В.М. Самсонова, Н.Ю. Сдобнякова. — Тверь: Твер. гос. ун-т, 2018. — Вып. 10. — С. 313-321.

Полный текст: загрузить PDF файл