О профильных характеристиках технических поверхностей применительно к наношероховатости
В.В. Измайлов, М.В. Новоселова
ФГБОУ ВО «Тверской государственный технический университет»
DOI: 10.26456/pcascnn/2024.16.643
Оригинальная статья
Аннотация: Рассмотрены параметры структуры технической поверхности на наномасштабном уровне, определяемые профильным методом. Показана возможность применения параметров, определяемых в соответствии с отечественными и международными стандартами для профиля шероховатости (микромасштабный уровень), к характеристике поверхности на наномасштабном уровне, выходящем за рамки стандартов. Такую возможность предоставляет лежащая в основе современных стандартов модель профиля технической поверхности как реализации широкополосного случайного нормального процесса. Проведена экспериментальная проверка нормальности процесса сравнением экспериментальных значений интегральной функции распределения вероятности ординат профиля с теоретическими значениями, подчиняющимися нормальному распределению. Приведены экспериментально полученные значения девяти наиболее важных параметров, а также их соотношения, подтверждающие достоверность модели профиля поверхности как нормального случайного процесса. Применение стандартных параметров профиляповерхности позволяет избежать ошибок и недоразумений, связанных с неоднозначной трактовкой того или иного параметра.
Ключевые слова: структура поверхности, наношероховатость, профильный метод, параметры профиля, нормальный случайный процесс
- Измайлов Владимир Васильевич – д.т.н., профессор кафедры прикладной физики, ФГБОУ ВО «Тверской государственный технический университет»
- Новоселова Марина Вячеславовна – к.т.н., доцент кафедры прикладной физики, ФГБОУ ВО «Тверской государственный технический университет»
Ссылка на статью:
Измайлов, В.В. О профильных характеристиках технических поверхностей применительно к наношероховатости / В.В. Измайлов, М.В. Новоселова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. — 2024. — Вып. 16. — С. 643-650. DOI: 10.26456/pcascnn/2024.16.643.
Полный текст: загрузить PDF файл
Библиографический список:
1. Иванов, И.А. Поверхность деталей машин и механизмов: учебное пособие для вузов / И.А. Иванов, С.В. Губенко, Д.П. Кононов. – Санкт-Петербург: Лань, 2021. – 156 с.
2. Геометрические характеристики изделий (GPS). Структура поверхности. Профильный метод. Термины, определения и параметры структуры поверхности: ГОСТ Р ИСО 4287-2014; введ. 01.01.2016. – М.: Стандартинформ, 2014. – 20 с.
3. Шероховатость поверхности. Параметры и характеристики: ГОСТ 2789-73. – Взамен ГОСТ 2789-59; введ. 01.01.1975. – М.: Стандартинформ, 2018. – 7 с.
4. Шероховатость поверхности. Термины и определения: ГОСТ 25145-82; введ. 01.01.1983. – М.: Изд-во стандартов, 1982. – 20 с.
5. Geometrical Product Specifications (GPS) – Surface texture: Profile method – Terms, definitions and surface texture parameters: ISO 4287:1997; 1st ed. 01.04.1997. – Geneva: ISO copyright office, 1997. 36 p.
6. Geometrical product specification (GPS) – Surface texture: Profile – Part 2: Terms, definitions, and surface texture parameters: ISO 21920-2:2021; 1st ed. 01.12.2021. – Geneva: ISO copyright office, 2021. 78 p.
7. Иванов, Д.В. Фрактальные свойства наноразмерных пленок никеля и хрома / Д.В. Иванов, А.С. Антонов, Н.Ю. Сдобняков и др. // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. – 2019. – Вып. 11. – С. 138-152. DOI: 10.26456/pcascnn/2019.11.138.
8. Антонов, А.С. Исследование морфологии рельефа пленок меди на поверхности слюды / А.С. Антонов, Н.Ю. Сдобняков, Д.В. Иванов, К.Б. Подболотов // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. – 2017. – Вып. 9. – С. 19-26. DOI: 10.26456/pcascnn/2017.9.019.
9. Иванов, Д.В. Различные схемы получения фрактального рельефа наноразмерных пленок платины / Д.В. Иванов, А.С. Антонов, Е.М. Семенова и др. // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. – 2021. – Вып. 13. – С. 156-165. DOI: 10.26456/pcascnn/2021.13.156.
10. Измайлов, В.В. Влияние нанотопографии поверхностей на характеристики дискретного контакта твердых тел / В.В. Измайлов, М.В. Новоселова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. – 2016. – Вып. 8. – С. 139-144.
11. Измайлов, В.В. О параметрах нанотопографии технической поверхности и её профиля / В.В. Измайлов, М.В. Новоселова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. – 2018. – Вып. 10. – С. 313-321. DOI: 10.26456/pcascnn/2018.10.313.
12. Григорьев, А.Я. Физика и микрогеометрия технических поверхностей / А.Я. Григорьев. – Минск: Беларуская навука, 2016. – 247 с.
13. Уайтхауз, Д. Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы / Д. Уайтхауз. – Долгопрудный: Издательский Дом «Интеллект», 2009. – 472 с.