Применение атомно-силовой микроскопии для исследования анизотропии межфазной энергии на границе металл-ориентированная подложка
Л.П. Арефьева1, И.Г. Шебзухова2, Т.А. Сахно1, Л.С. Шахова1
1ФГБОУ ВО «Донской государственный технический университет»
2ФГБОУ ВО «Кабардино-Балкарский государственный университет им. Х.М. Бербекова»
DOI: 10.26456/pcascnn/2019.11.016
Аннотация: Разработанный нами метод определения анизотропии межфазной энергии в твердой системе применен для исследования нанокристаллов никеля на ориентированной подложке кремния. Частицы никеля были получены по механизму пар-жидкость-твердое тело методом осаждения в вакууме на подложку. Поверхность образца визуализировалась атомно-силовой микроскопией в полуконтактном режиме. Проведенный анализ АСМ-изображений позволил установить геометрические характеристики кристаллов никеля, исследовать рельеф. По полученным данным определена модельная форма и положение точки Вульфа равновесных кристаллов на подложке. Построены зависимости характеристической величины A/V2/3 от эффективного контактного угла в двух направлениях и показано, что в данной системе межфазная энергия границы кристалл-подложка сильно анизотропна.
Ключевые слова: межфазная энергия, смачивание, нанокристаллы, атомно-силовая микроскопия, никель.
Библиографическая ссылка:
Арефьева, Л.П. Применение атомно-силовой микроскопии для исследования анизотропии межфазной энергии на границе металл-ориентированная подложка / Л.П. Арефьева, И.Г. Шебзухова, Т.А. Сахно и др. // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов: межвуз. сб. науч. тр. / под общей редакцией В.М. Самсонова, Н.Ю. Сдобнякова. — Тверь: Твер. гос. ун-т, 2019. — Вып. 11. — С. 16-25.
Полный текст: загрузить PDF файл