Электронная микроскопия композитов Cu − SiC, полученных холодным формованием и твердофазным спеканием

Н.А. Панькин, В.П. Мишкин
ФГБОУ ВО «Мордовский государственный университет им. Н.П. Огарева»

DOI: 10.26456/pcascnn/2018.10.517

Аннотация: Методом растровой электронной микроскопии исследованы композиты Cu − SiC после процессов формования и термической обработки. После прессования наблюдаются пластическая деформация частиц меди и следы разрушения карбида кремния (трещины и осколки). После твердофазного спекание отмечается образование пористой структуры в матричном материале без существенных изменений в частицах наполнителя. Данные распределения химических элементов вблизи границы SiC − Cu указывают на незначительное влияние диффузионных процессов.
Ключевые слова: композит, электронная микроскопия, медь, карбид кремния, микроструктура, поры.

Библиографическая ссылка:
Панькин, Н.А. Электронная микроскопия композитов Cu − SiC, полученных холодным формованием и твердофазным спеканием / Н.А. Панькин, В.П. Мишкин // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов: межвуз. сб. науч. тр. / под общей редакцией В.М. Самсонова, Н.Ю. Сдобнякова. — Тверь: Твер. гос. ун-т, 2018. — Вып. 10. — С. 517-523.

Полный текст: загрузить PDF файл