Interuniversity Collection of Proceedings "Physical and chemical aspects of the study of clusters, nanostructures and nanomaterials"
Founded at 2009


О «технологических» свойствах наноразмерных пленок никеля и меди

Д.В. Иванов, А.С. Антонов, Н.Ю. Сдобняков, А.Н. Шиманская, Е.В. Романовская, М.С. Афанасьев
ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
УО «Белорусский государственный технологический университет»
ФГБОУ ВО «МИРЭА – Российский технологический университет»
Фрязинский филиал ФГБУН «Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук»

DOI: 10.26456/pcascnn/2018.10.291

Аннотация: На примере исследования морфологии рельефа наноразмерных пленок никеля и меди на поверхности слюды с помощью сканирующего туннельного микроскопа показана возможность создания технологии «выращивания» структур с заданной морфологией поверхности. Описаны характерные особенности нанорельефа поверхности пленки, включая фрактальные свойства. Получены вольт-амперные характеристики контакта металл-металл для пленок никеля и меди с острием из вольфрама. Показано, что для участков поверхности, содержащих фрактальные структуры, вольт-амперные характеристики могут отличаться от зависимостей, получаемых на обычных поверхностях.
Ключевые слова: сканирующая туннельная микроскопия, нанорельеф, фрактальная размерность, наноразмерные пленки никеля и меди, вольт-амперная характеристика, туннельный контакт.

Библиографическая ссылка:
Иванов, Д.В. О «технологических» свойствах наноразмерных пленок никеля и меди / Д.В. Иванов, А.С. Антонов, Н.Ю. Сдобняков и др. // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов: межвуз. сб. науч. тр. / под общей редакцией В.М. Самсонова, Н.Ю. Сдобнякова. – Тверь: Твер. гос. ун-т, 2018. – Вып. 10. – С. 291-303.

Полный текст: загрузить PDF файл

About «technological» properties of nano-sized nickel and copper films

D.V. Ivanov, A.S. Antonov, N.Yu. Sdobnyakov, H.N. Shimanskaya, E.V. Romanovskaia, M.S. Afanasiev
Tver State University
Belarusian State Technological University
MIREA – Russian Technological University
Fryazino Branch of V.A. Kotelnikov Institute of Radio Engineering and Electronics of Russian Academy of Sciences

DOI: 10.26456/pcascnn/2018.10.291

Abstract: As an example of studying morphology of the relief of nickel and copper nano-sized films on the mica surface, it is possible to create a technology to «grow» structures with a given surface morphology using a scanning tunneling microscope. The characteristic features of the film surface nanorelief are described, including fractal properties. The current-voltage characteristics of a metal-to-metal contact for nickel and copper films with a tungsten tip are obtained. It is shown that for surface areas containing fractal structures, the current-voltage characteristics may differ from the dependences obtained on ordinary surfaces.
Keywords: scanning tunneling microscopy, nanorelief, fractal dimension, nanoscale films of nickel and copper, current-voltage characteristic, tunnel contact.

Bibliography link:
Aleroev, M.A. About «technological» properties of nano-sized nickel and copper films / M.A. Aleroev, O.G. Ashkhotov, I.B. Ashkhotova et al. // Physical and chemical aspects of the study of clusters, nanostructures and nanomaterials: Interuniversity collection of proceedings / Ed. by V.M. Samsonov, N.Yu. Sdobnyakov. – Tver: TSU, 2018. – I. 10. – P. 291-303.

Full text (in Russian): download PDF file

Comments are closed.