О методике подготовки образцов для изучения фрактальной размерности и электрических свойств образцов с помощью сканирующего туннельного микроскопа
А.С. Антонов, О.В. Михайлова, Е.А. Воронова, Н.Ю. Сдобняков
ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
DOI: 10.26456/pcascnn/2014.6.015
Оригинальная статья
Аннотация: В данной работе изложена методика подготовки образцов для изучения фрактальной размерности и получения вольт-амперных характеристик с помощью сканирующего туннельного микроскопа.
Ключевые слова: подготовка образцов, сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), фрактальная размерность, вольт-амперные характеристики
- Антонов Александр Сергеевич – аспирант кафедры теоретической физики физико-технического факультета, технический редактор сборника , ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
- Михайлова Ольга Владимировна – магистр кафедры теоретической физики физико-технического факультета, ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
- Воронова Елена Александровна – магистр кафедры теоретической физики физико-технического факультета, ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
- Сдобняков Николай Юрьевич – к.ф.-м.н., доцент кафедры теоретической физики, заместитель главного редактора, ФГБОУ ВО «Тверской государственный университет»
Ссылка на статью:
Антонов, А.С. О методике подготовки образцов для изучения фрактальной размерности и электрических свойств образцов с помощью сканирующего туннельного микроскопа / А.С. Антонов, О.В. Михайлова, Е.А. Воронова, Н.Ю. Сдобняков // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов. - 2014. - Вып. 6. - С. 15-21. DOI: 10.26456/pcascnn/2014.6.015. ⎘
Полный текст: загрузить PDF файл
Библиографический список:
1. Будаев, В.П. Фрактальная нано- и микроструктура осажденных пленок в термоядерных установках / В.П, Будаев, Л.Н. Химченко // Вопросы атомной науки техники. Серия «Термодяерный синтез». – 2008. – Вып. 3. – С. 34-61.
2. Смирнов, Б.М. Физика фрактальных кластеров / Б.М. Смирнов. – М.: Наука, 1991. – 156 с.
3. Зыков, Т.Ю. Исследование морфологии рельефа поверхности золота на слюде методом сканирующей туннельной микроскопии / Т.Ю. Зыков, Н.Ю. Сдобняков, В.М. Самсонов, А.Н. Базулев, А.С. Антонов // Конденсированные среды и межфазные границы. – 2009. – Т. 11. – № 4. – С. 309-313.
4. Сдобняков, Н.Ю. Применение метода сканирующей туннельной микроскопии для исследования рельефа различной размерности золота на слюде / Н.Ю. Сдобняков, Т.Ю. Зыков, А.Н. Базулев, А.С. Антонов // Вестник ТвГУ. Серия «Физика». – 2009. – №41. – Вып. 6. – С. 112-119.
5. Сдобняков, Н.Ю. Измерение вольт–амперных характеристик туннельного контакта вольфрам–золото / Н.Ю. Сдобняков, А.С. Антонов, Т.Ю. Зыков, Д.Н. Соколов, Е.А. Воронова, О.В. Михайлова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов: межвуз. сб. науч. тр. / под общей редакцией В.М. Самсонова, Н.Ю. Сдобнякова. − Тверь: Твер. гос. ун-т, 2011. − Вып. 3. − С. 206-216.
6. Антонов, А.С. Получение 3-D изображений нанопокрытия хрома на стекле иизмерение вольт-амперных характеристик / А.С. Антонов, Т.Ю. Зыков, Е.А. Воронова, Н.Ю. Сдобняков, П.С. Кутилин, А.С. Михайлов, О.В. Михайлова // Физико-химические аспекты изучения кластеров, наноструктур и наноматериалов: межвуз. сб. науч. тр. / под общей редакцией В.М. Самсонова, Н.Ю. Сдобнякова. − Тверь: Твер. гос. ун-т, 2013. − Вып. 5. − С. 14-19.
7. Антонов, А.С. Оценка геометрических характеристик нанопокрытия хрома на стекле и измерение вольт-амперных характеристик / А.С. Антонов, Е.А. Воронова, Н.Ю. Сдобняков, О.В. Михайлова // Нанотехника. − 2014. − № 2 (38). − С. 8-10.
8. Travaglini, G. Scanning tunneling microscopy on biological matter / G. Travaglini, H. Rohrer, M. Amrein, H. Gross // Surface Science. − 1987. − V. 181. − I. 1-2. − P. 380-390.
9. Dunlap, D.D. Images of single-stranded nucleic acids by scanning tunneling microscopy / D.D. Dunlap, C. Bustamante // Nature. − 1989. − V. 342. − P. 204-206.